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光譜橢偏儀SENresearch 4.0

免費樣品檢驗 48小時發貨工廠直銷

￥100萬-200萬

產品規格：測量高厚度薄膜，提供最寬的光譜范圍，最高光譜分辨率等

公司所在地：重慶

產品庫存：現貨及定制

可供貨地區：全國

其他說明：

最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率采用 SSA 原理，無活動部件創新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件可按需定制及升級配件配置

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最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率采用 SSA 原理，無活動部件創新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件可按需定制及升級配件配置收起

品牌：

SENTECH

型號：

SENresearch 4.0

用途范圍：

測量高厚度薄膜、近紅外光譜等

重慶眺...

重慶眺望科技有限公司

聯系人：眺望科技

主營業務：美國AJA磁控濺射，離子刻蝕、電子束蒸發等PVD設備，先進電鍍設備，ICP,PECVD,ALD,RIE等離子體工藝設備等，美國Film Sense多波長橢偏儀，ATL激光器以及徠卡LEICA光學顯微鏡

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